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[M] Fatigue crack growth under spectrum loads : a symposium presented at the Seventy-eighth Annual Meeting, American Society for Testing and Materials, Montreal, Canada, 23-24 June, 1975, R. P. Wei and R. I. Stephens, symposium cochairmen 冊子体


著者: 出版者: ASTM (出版日: 1976)

資料: Fatigue crack growth under spectrum loads : a symposium presented at the Seventy-eighth Annual Meeting, American Society for Testing and Materials, Montreal, Canada, 23-24 June, 1975, R. P. Wei and R. I. Stephens, symposium cochairmen

本棚: 書庫12 画像 (千現)

貸出区分: 標準

貸出状態: 在架(利用可能)

請求記号: STP|A|キ397

原簿番号:

所蔵情報ID: 212652

付録を含む: いいえ

閲覧に必要な権限: Guest

受入日: 1992年12月14日

業務用メモ:

受入時刻:

作成時刻: 2010/12/15 23:20:02

更新時刻: 2025/12/23 15:16:03