[M] Advances in X-ray analysis v. 36

edited by John V. Gilfrich ... [et al.] ; sponsored by University of Denver Department of Engineering and International Centre for Diffraction Data
著者: Conference on Application of X-ray Analysis Denver Research Institute JCPDS-International Centre for Diffraction Data Gilfrich, John V. 出版者: Plenum (出版日: 1993)

資料: Advances in X-ray analysis

本棚: 単行書10 (並木)

貸出区分: 標準

貸出状態: 在架（利用可能）

請求記号: 539|Ａ|9882

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所蔵情報ID: 216890

付録を含む: いいえ

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受入日: 1996年02月28日

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受入時刻:

作成時刻: 2010/12/15 23:26:03

更新時刻: 2025/12/15 09:31:17