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Atomic-scale imaging of surfaces and interfaces : symposium held November 30-December 2, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A.
editors, David K. Biegelsen, David J. Smith, S.Y. Tong
著者: Biegelsen, D. K. Smith, David J. Tong, S. Y. 出版者: Materials Research Society (出版日: 1993)
貸出区分: 標準
貸出状態: 在架(利用可能)
請求記号: MRS|P|295
原簿番号:
所蔵情報ID: 216459
付録を含む: いいえ
閲覧に必要な権限: Guest
受入日: 1994年03月30日
業務用メモ:
受入時刻:
作成時刻: 2010/12/15 23:36:40
更新時刻: 2025/12/03 16:34:18