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Atomic-scale imaging of surfaces and interfaces : symposium held November 30-December 2, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A. 
editors, David K. Biegelsen, David J. Smith, S.Y. Tong
著者: Biegelsen, D. K. Smith, David J. Tong, S. Y. 出版者: Materials Research Society (出版日: 1993)
| 雑誌・シリーズ情報: |
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冊子体
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | ix, 288 p. ; 24 cm |
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| 識別子: |
ISBN: 9781558991903
NCID: BA20587802
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| 注記: |
Includes bibliographical references and index |
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