[M] Electron microfractography : a symposium presented at the seventy-first annual meeting, American Society for Testing and Materials

著者: American Society for Testing and Materials. Subcommittee II on Fractography 出版者: American Society for Testing and Materials (出版日: 1969)

資料: Electron microfractography : a symposium presented at the seventy-first annual meeting, American Society for Testing and Materials

本棚: その他 (千現)

貸出区分: 標準

貸出状態: 除籍済み

請求記号: ASTM|A|T-142

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所蔵情報ID: 215555

付録を含む: いいえ

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受入日: 1972年12月02日

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作成時刻: 2010/12/15 23:57:15

更新時刻: 2025/05/12 09:55:15