[M] High resolution X-ray diffractometry and topography

D. Keith Bowen and Brian K. Tanner
著者: Bowen, D. Keith (David Keith) Tanner, B. K. (Brian Keith) 出版者: Taylor & Francis (出版日: 1998)

資料: High resolution X-ray diffractometry and topography

本棚: その他 (千現)

貸出区分: 標準

貸出状態: 除籍済み

請求記号: 548.73|B

原簿番号: N00165

所蔵情報ID: 600165

付録を含む: いいえ

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受入日: 2013年11月18日

業務用メモ: 行方不明図書（217806)　補充

受入時刻:

作成時刻: 2013/11/19 13:25:04

更新時刻: 2025/05/12 09:53:10