[M] X線回折法によるナノ材料の界面構造の迅速評価

著者: 坂田, 修身 吉本, 護 三木, 一司 (出版日: 2007)
https://hdl.handle.net/20.500.11932/1613610

• 書誌詳細

コレクション:	NIMS成果物
形態:	オンラインリソース
言語:	不明
ページ数と大きさ:	4 p. (49 - 52)
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識別子:	Handle URI: https://hdl.handle.net/20.500.11932/1613610
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