[M] X線逆格子イメージング法によるナノ材料の迅速評価

著者: 坂田, 修身 吉本, 護 三木, 一司 (出版日: 2006)
https://hdl.handle.net/20.500.11932/1613633

• 書誌詳細

コレクション:	NIMS成果物
形態:	オンラインリソース
言語:	不明
ページ数と大きさ:	6 p. (992 - 997)
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識別子:	Handle URI: https://hdl.handle.net/20.500.11932/1613633
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