資料の表示
[M]
X線逆格子イメージング法によるナノ材料の迅速評価
著者: 坂田, 修身 吉本, 護 三木, 一司 (出版日: 2006)
コレクション: | NIMS成果物 |
形態: |
|
言語: | 不明 |
ページ数と大きさ: | |
件名: | |
分類: | |
識別子: | Handle URI: https://hdl.handle.net/20.500.11932/1613633 |
アブストラクト: | |
注記: |
---|
