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[M] Metrology and Standardization for Nanotechnology : Protocols and Industrial Innovations 冊子体

Edited by Elisabeth Mansfield, Debra L. Kaiser, Daisuke　Fujita, Marcel Van de Voorde,
協力者・編者: Mansfield, Elisabeth L. Kaiser, Debra Fujita, Daisuke Van de Voorde, Marcel 出版者: Wiley-VCH (出版日: 2017-01-01)

雑誌・シリーズ情報:
  • Applications of Nanotechnology
形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 626p ; 25cm
件名:
分類:
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識別子: ISBN: 9783527340392
アブストラクト:

注記:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602151 並木 NIMS出版物1 画像 NIMS|F| 在架（利用可能）