[M] Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy

著者: Thomas Vogt, Wolfgang Dahmen, Peter Binev 出版者: Springer New York (出版日: 2012)

• 書誌詳細

雑誌・シリーズ情報:	Nanostructure Science and Technology
形態:	オンラインリソース
言語:	English
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識別子:	ISBN: 9781461421917 DOI: 10.1007/978-1-4614-2191-7
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