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Symposium on X-ray and electron probe analysis : presented at the Sixty-sixth annual meeting, American Society for Testing and Materials, Atlantic City, N. J., June 27, 1963 
著者: American Society for Testing and Materials 出版者: ASTM (出版日: 1964)
| 雑誌・シリーズ情報: |
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| 形態: |
冊子体
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | vi, 209 p. ; 24 cm |
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| 識別子: |
NCID: BA01667686
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