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[M] The application of electron microscopy to materials science : proceedings of an International Workshop, held in China, Gauonzhou, August 1988 : [pbk] 冊子体

editor, K.H. Kuo ; sponsored by The Chinese Academy of Sciences, The International Centre for Theoretical Physics(Trieste)
著者: 出版者: Trans tech Publications Sci-Tech Publications

代替タイトル: Solid state phenomena
雑誌・シリーズ情報:
  • Diffusion and defect data : solid state data Pt. B. solid state phenomena ; v. 5
版:
巻号: 巻: : [pbk]
形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 209 p. ; 25 cm
件名:
分類:
タグ:
識別子: ISBN: 9783908044017
アブストラクト:

注記:

"Focus -- electron microscopy"//"SSP"//Including bibliographical references//Author index: p. [211]

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215785 千現 単行書8 画像 548.526|K| 在架(利用可能)