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[M] Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors Part2; ICDS 16 Lehigh University, Bethleme, Pennsylvania 22-26 July 1991 Part2 冊子体

著者: 協力者・編者: edited by; Gordon Dacies, Gary G. DeLeo and Michaek Stavola 出版者: Trance Tech Publications

形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 539p; 25cm
件名:
分類:
識別子: ISBN: 9780878496280
アブストラクト:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219281 千現 単行書11 画像 621.315.|D|キ1195 在架(利用可能)