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Spatially Resolved Characterization of Local Phenomena in Materials and Nanostructures : Symposium held December 2-6, 2002, Boston, Massachusetts, U.S.A; MRS Vol.738 Vol.738 Vol.738 
著者: editors, Javier Piqueras, Fredy R. Zypman, Dawn A. Bonnell [et al.] 出版者: Materials Research Society (MRS) (出版日: 2003)
| 版: | |
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| 巻号: | 巻: Vol.738 |
| 形態: |
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | 425p; 24cm |
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| 分類: | |
| 識別子: | ISBN: 9781558996755 |
| アブストラクト: | |
| 注記: |
| 所蔵情報ID | 図書館 | 本棚 | 請求記号 | 貸出状態 |
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| 219495 | 千現 |
プロシーディングス26 
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MRS|P|11909 | 在架（利用可能） |