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Spatially resolved characterization of local phenomena in materials and nanostructures : symposium held December 2-5, 2002, Boston, Massachusetts, U.S.A. 
editors, Javier Piqueras ... [et al.]
著者: Materials Research Society Piqueras, Javier Zypman, Fredy R. Bonnell, Dawn A. Shreve, Andrew P. 出版者: Materials Research Society (出版日: 2003)
| 雑誌・シリーズ情報: |
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冊子体
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | xiii, 425 p. ; 24 cm |
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| 識別子: |
ISBN: 9781558996755
NCID: BA62101317
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Includes bibliographical references and indexes |
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