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[M] Defects in Semiconductors 18 : Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 Vols.196-201 Part 4 定期刊行物 冊子体

著者: 協力者・編者: edited by Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida 出版者: Trans Tech Publications

雑誌・シリーズ情報:
  • Defects in Semiconductors
(ISSN: 02555476)
形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 1563p; 25cm
件名:
分類:
識別子: ISBN: 9780878497157 ISSN: 02555476
アブストラクト:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
124218 千現 集密書庫 画像 |M|キ 929 在架(利用可能)
貸出不可