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電子顕微鏡研究者のための FIB・イオンミリング技法Q&A：ナノテクノロジーの推進役 
著者: 平坂 雅夫 朝倉 健太郎 共編 出版者: アグネ承風社
(出版日: 2002)
| 版: | 第一版 |
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冊子体
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| 言語: | 日本語 |
| ページ数と大きさ: | 208 p. (1 - 208) |
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| 識別子: | ISBN: 9784900508743 |
| アブストラクト: | |
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