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[M] Properties of Amorphous Silicon and its Alloys
著者: edited by Tim Searle 協力者・編者: edited by Tim Searle 出版者: INSPEC, The Institution of Electrical Engineers(IEE)
(出版日: 1998)
雑誌・シリーズ情報: |
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形態: | 冊子体 |
言語: | English |
ページ数と大きさ: | 412p; 29cm |
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