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Know the Risk : Learning from Errors and Accidents : Safety and Risk in Today's Technology 
著者: Romney Beecher Duffey, John Walton Saull 出版者: Butterworth-Heinemann
(出版日: 2003)
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冊子体
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | 227p; 24cm |
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| 識別子: | ISBN: 9780750675963 |
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