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[M] Materials, Technology and Reliability for Low-k Dielectrics, and Copper Interconnects - 2006 : Symposium held April 18-21, 2006, San Francisco, California, U.S.A. ; MRS Vol.914 Vol.914 冊子体

著者: 出版者: Materials Research Society (MRS)

形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 462p; 24cm
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所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
210818 千現 プロシーディングス26 画像 MRS|P|12328 在架(利用可能)