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461	Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis: Jointly sponsored by the Electron Microscopy Society of America and the Microbeam Analysis Society edited by Benjamin M. Siegel, Donald R. Beaman edited by Benjamin M. Siegel, Donald R. Beaman John Wiley & Sons (1975) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205664 千現 単行書11 621.385.833|S|5820 在架（利用可能）
462	物質の磁性 近角, 聡信 裳華房 (1978-10) 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 207743 千現 単行書4 537.6|C|7639 貸出中 ( 返却期限: 2024年05月17日 )
463	Physical Ceramics : Principles for Ceramic Science and Engineering Statement Yet-Ming Chiang, Dunbar P. Birnie, Ⅲ, W. David Kingery John Wiley & Sons (1997) UDC: 666.3 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217615 千現 単行書13 666.3|C|10494 在架（利用可能）
464	Corrosion of Nickel and Nickel-Base Alloys Series Wayne Z. Friend John Wiley & Sons (1980) 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 216019 千現 単行書10 620.19|C|T-413 在架（利用可能）
465	Semiconductor Devices : Physics and Technology -2nd ed.- S.M. Sze John Wiley & Sons (2002) UDC: 537.311 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219775 千現 単行書3 537.311|S|12128 在架（利用可能）
466	X-Ray Diffraction Procedures : for Polycrystalline and Amorphous Materials Harold P. Klug, Leroy Elbert Alexander John Wiley & Sons ; Chapman & Hall (1954) UDC: 548.7 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 216160 千現 単行書9 548.7|K|T-264 在架（利用可能）

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コレクション

言語

• English (456)
• 不明 (6)
• 日本語 (4)

出版日

• 2010 - 2019 (8)
• 2000 - 2009 (55)
• 1990 - 1999 (48)
• 1980 - 1989 (46)
• 1970 - 1979 (49)
• 1960 - 1969 (119)
• 1950 - 1959 (76)
• 1940 - 1949 (8)
• 1930 - 1939 (2)
• 1900 - 1909 (1)

予約可能

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