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[M] Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis: Jointly sponsored by the Electron Microscopy Society of America and the Microbeam Analysis Society 冊子体

著者: 協力者・編者: edited by Benjamin M. Siegel, Donald R. Beaman 出版者: John Wiley & Sons (出版日: 1975)

形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 474p; 27cm
件名:
分類:
識別子: ISBN: 9780471790204
アブストラクト:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205664 千現 単行書11 画像 621.385.833|S|5820 在架(利用可能)