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1 Noncontact atomic force microscopy [v. 1] 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602582 並木 単行書22 画像 621.385|M| 在架（利用可能）
2 Scanning probe microscopy : analytical methods 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
601886 並木 単行書22 画像 621.385|W|寄贈 在架（利用可能）
3 Scanning probe microscopy and spectroscopy : methods and applications : hbk 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
534111 並木 単行書11 画像 539.24|H20-1|寄贈 在架（利用可能）
4 Further applications and related scanning techniques : gw 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216655 並木 単行書11 画像 539.24|Ｗ|9626 在架（利用可能）
5 General principles and applications to clean and absorbate-covered surfaces : Berlin 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216536 並木 単行書11 画像 539.24|W|9553 在架（利用可能）
6 Theory of STM and related scanning probe methods : gw 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216454 並木 単行書11 画像 539.24|Ｗ|T-1519 在架（利用可能）
7 Further applications and related scanning techniques : gw 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216453 並木 単行書11 画像 539.24|W|T-1518 在架（利用可能）
8 General principles and applications to clean and adsorbate-covered surfaces : Berlin 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216452 並木 単行書11 画像 539.24|W|T-1517 在架（利用可能）

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