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1	走査電子顕微鏡 日本電子顕微鏡学会関東支部 共立出版 (2000-06) UDC: 621.385 NDC8: 549.97 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602645 並木 単行書22 621.385|N| 在架（利用可能）
2	Electron microscopy 1966 vol. 1 上田, 良二 International Congress on Electron Microscopy Maruzen (1966) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602592 並木 単行書22 621.385|U| 在架（利用可能）
3	Noncontact atomic force microscopy [v. 1] 森田, 清三 Wiesendanger, R. (Roland) Meyer, E. (Ernst) Springer-Verlag (2002) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602582 並木 単行書22 621.385|M| 在架（利用可能）
4	In situ electron and tunneling microscopy of dynamic processes : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A. Sharma, Renu Materials Research Society Symposium on "In Situ Electron and Tunneling Microscopy of Dynamic Processes" Materials Research Society (1996) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602560 千現 集密書庫 MRS|S| 在架（利用可能）
5	ミクロからみた物質 上村, 洸 放送大学教育振興会 (1988-03) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602440 並木 単行書22 621.385|U| 在架（利用可能）
6	Scanning probe microscopy : analytical methods Wiesendanger, R. (Roland) Springer-Verlag (1998) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 601886 並木 単行書22 621.385|W|寄贈 在架（利用可能）
7	ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡 日本表面科学会 丸善 (2002-08) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 601030 並木 単行書22 621.385|N| 在架（利用可能）
8	ナノテクノロジーのための走査電子顕微鏡 日本表面科学会 丸善 (2004-02) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 601029 並木 単行書22 621.385|N| 在架（利用可能）
9	材料開発のための顕微鏡法と応用写真集 日本金属学会 越後谷, 淳一 弘津, 禎彦 日本金属学会 (2006-03) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600138 並木 単行書22 621.385|N 在架（利用可能）
10	新・走査電子顕微鏡 日本顕微鏡学会関東支部 共立出版 (2011-06) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600132 並木 単行書22 621.385|N 在架（利用可能）

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資料の形態

• 冊子体 (37)

図書館

• 並木 (35)
• 千現 (5)

コレクション

言語

• English (22)
• 日本語 (15)

出版日

• 2000 - 2009 (1)
• 1980 - 1989 (1)
• 1970 - 1979 (1)
• 1960 - 1969 (2)

予約可能

• はい (36)
• いいえ (1)

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