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11 Characterisation of radiation damage by transmission electron microscopy 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219114 並木 単行書22 画像 621.385.|J|11641 在架（利用可能）
12 Transmission electron microscopy and diffractometry of materials 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218843 並木 単行書22 画像 621.385.833|F|11478 在架（利用可能）
13 Introduction to scanning tunneling microscopy 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527878 並木 単行書22 画像 621.385.||05106 在架（利用可能）
14 Springer Series in Optical Sciences Volume 45 (Scanning Electron Microscopy) 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527891 並木 単行書22 画像 621.385.||05395 在架（利用可能）
15 Principles and basic properties 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527882 並木 単行書22 画像 621.385.||04794 在架（利用可能）
16 Specialized methods 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527883 並木 単行書22 画像 621.385.||04795 在架（利用可能）
17 Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527900 並木 単行書22 画像 621.385.||03410 在架（利用可能）
18 New direction in transmission electron microscopy and nano-characterization of materials : proceedings of the Asian science seminar in commemoration of the the 20th anniversary of the HVEM Laboratory of Kyushu University 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527905 並木 単行書22 画像 621.385.||05396 在架（利用可能）
19 Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527868 並木 単行書22 画像 621.385.||05379 在架（利用可能）
20 The chemical applications of transmission electron microscopy 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527901 並木 単行書22 画像 621.385.||04167 在架（利用可能）

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