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21	Convergent-beam electron diffraction 田中, 通義 寺内, 正巳 JEOL (1985) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 215459 並木 単行書22 621.385.833|Ｔ|T-771 在架（利用可能）
22	Electron Microscopy 1982 Vol.2 The Congress Organizing Committee Deutsche Gesellschaft Elektronenj-Mikroskopie E. V. (1982-01-01) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 207678 並木 単行書22 621.385.|Ｅｌ|８３３ 在架（利用可能）
23	Symposia and physical sciences : paper presented at the 10th International Congress on Electron Microscopy held in Hamburg, West Germany, August 17-24, 1982 International Congress on Electron Microscopy Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (1982) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 207677 並木 単行書22 621.385.833|C|7729 在架（利用可能）
24	Developments in electron microscopy and analysis : proceedings of EMAG 75 held at the University of Bristol, 8-11 September 1975 Venables, J. A. Institute of Physics (Great Britain). Electron Microscopy and Analysis Group Academic Press (1976) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205663 並木 単行書22 621.385.833|Ｖ|5861 在架（利用可能）
25	Electron Microscope Fracture Examination to Characterize & Identify Modes of Fracture C. D. Beachem U. S. Naval Research Laboratory (1993-01-01) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205640 並木 単行書22 621.385.|Ｅｌ|８３３ 在架（利用可能）
26	Handbook of microscopy : applications in materials science, solid-state physics and chemistry Methods 2 Amelinckx, Severin edited by S. Amelinckx, D.van Dyck, J.van Landuyt, G. Van Tendeloo VCH (1997) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217580 千現 書庫8 621.385.833|Ａ|10462 在架（利用可能） 貸出不可
27	Handbook of microscopy : applications in materials science, solid-state physics and chemistry Methods 1 Amelinckx, Severin edited by S. Amelinckx, D.van Dyck, J.van Landuyt, G.Van Tendeloo VCH (1997) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217579 千現 書庫8 621.385.833|Ａ|10461 在架（利用可能） 貸出不可
28	Handbook of microscopy : applications in materials science, solid-state physics and chemistry Applications Amelinckx, Severin edited by S. Amelinckx, D. van Dyck, J. van Landuyt, G. van Tendeloo VCH (1997) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217581 千現 書庫8 621.385.833|Ａ|10463 在架（利用可能） 貸出不可
29	Principles of analytical electron microscopy Joy, David C. Romig, Alton D. Goldstein, Joseph edited by David C. Joy, Alton D. Romig, Jr. and Joseph I. Goldstein Plenum Press (1986) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 215515 並木 単行書22 621.385.833|J|T-963 在架（利用可能）
30	Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologists Goldstein, Joseph, Plenum Press (1992) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217474 並木 単行書22 621.385.833|G|10373 在架（利用可能）

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• 冊子体 (41)

図書館

• 並木 (38)
• 千現 (7)

コレクション

言語

• English (41)
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出版日

• 1990 - 1999 (2)
• 1980 - 1989 (1)

予約可能

• はい (38)
• いいえ (3)

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