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1	Introduction to analytical electron microscopy Hren, John J. Goldstein, Joseph Joy, David C. Plenum Press (1979) UDC: 537.533.3 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 524741 並木 単行書9 537.533.||04377 在架（利用可能）
2	Principles of analytical electron microscopy Joy, David C. Romig, Alton D. Goldstein, Joseph edited by David C. Joy, Alton D. Romig, Jr. and Joseph I. Goldstein Plenum Press (1986) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 215515 並木 単行書22 621.385.833|J|T-963 在架（利用可能）
3	EXAFS spectroscopy, techniques and applications Teo, B. K. Joy, David C. Materials Research Society edited by B.K. Teo, D.C. Joy Plenum Press (1981) UDC: 539 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 215818 並木 単行書10 539|Ｔ|T-1236 在架（利用可能）
4	SEM microcharacterization of semiconductors Holt, D. B. Joy, David C. edited by D.B. Holt, D.C. Joy Academic Press (1989) UDC: 548.73 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 216176 並木 単行書18 548.73|Ｈ|T-1311 在架（利用可能）
5	Microscopy of semiconducting materials, 1981 : proceedings of the Royal Microscopical Society Conference held in St. Catherine's College, Oxford, 6-10 April 1981 Gullis, A. G. Joy, David C. Royal Micoroscopical Society Coference edited by A.G. Cullis, D.C. Joy Institute of Physics (1981) UDC: 537.311 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 207992 並木 単行書9 537.311|C|7771 在架（利用可能）

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