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1	An Electron Exposure System for Recording and Printing L. A. Fontijn Deiftsche Vitgevers Maatschappij N. V. (1972) UDC: 621.38 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205352 千現 集密書庫 621.38|Ｅｌ| 在架（利用可能）
2	Electron Microfractography. American Society for Testing & Materials. American Society for Testing & Materials. (1970) UDC: 621.38 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527853 並木 単行書16 621.38||02367 在架（利用可能）
3	Electron and Ion Beam Science and technology Fifth International Conference edited by Robert Bakish edited by Robert Bakish (1972) UDC: 621.38 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 208507 千現 単行書11 621.38|Ｂ| 在架（利用可能）
4	IC Master 1979 United Technical Pub. (1979) UDC: 621.38 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 523251 並木 参考図書2 621.38||03889 在架（利用可能）
5	Material Characterization Using Ion Beams B 28 Physics,Vol.28 edited by J.P. Thomas, A. Cachard edited by J.P. Thomas, A. Cachard Plenum Press (1978) UDC: 621.38 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 215445 千現 単行書11 621.38|T|T-515 在架（利用可能）
6	Semiconductor Lasers and Heterojunction LEDs Applications Henry Kressel, Jerome K. Butler Academic Press (1977) UDC: 621.38 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 215485 千現 単行書11 621.38|Ｋ|T-800 在架（利用可能）
7	Systematic Materials Analysis Vol.1 J.A.Richardson & R.V.Peterson Academic,N.Y. (1974) UDC: 621.38 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204459 千現 単行書11 621.38|Ｒ| 在架（利用可能）
8	ＶＴＲ ４ 澤崎憲一 コロナ社 (1973) UDC: 621.38 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204465 千現 単行書11 621.38|Ｓ| 在架（利用可能）

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資料の形態

• 冊子体 (8)

図書館

• 千現 (6)
• 並木 (2)

コレクション

言語

• English (8)
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出版日

• 1970 - 1979 (8)
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予約可能

• はい (8)

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