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41 Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
201994 並木 単行書22 画像 621.385.|R|1518 在架（利用可能）
42 High-resolution transmission electron microscopy and associated techniques : pbk 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
217813 並木 単行書22 画像 621.385.833|B|10644 在架（利用可能）
43 ナノ世界への道 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
217647 並木 単行書22 画像 621.385.833|D|10518 在架（利用可能）
44 Scanning electron microscopy/1976 Vol. 1 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205652 並木 単行書22 画像 621.385.|Ｊ|5851 在架（利用可能）
45 Scanning electron microscopy/1977/I : Proceedings of the 10th Annual Scanning Electron Microscope Symposium and workshops on materials and component characterization/quality control with the SEM/STEM, SEM applications to semiconductors, analytical electron microscopy, biological specimen preparation for SEM, March 28 - April 1, 1977 : Sessions held at McCormick INN, Chicago, Illinois Vol. 1 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205654 並木 単行書22 画像 621.385.|J|6184 在架（利用可能）
46 Scanning electron microscopy 1968 : proceedings of the Symposium on the Scanning Electron Microscope -- the instrument and its applications, held at IIT Research Institute, Chicago, Illnois, USA, April 30-May 1, 1968 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205651 並木 単行書22 画像 621.385.|J|3865 在架（利用可能）
47 Principles and practice of electron microscope operation : ne 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205648 並木 単行書22 画像 621.385.833|G|6497 在架（利用可能）
48 Procedures in scanning probe microscopies 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
217874 並木 単行書22 画像 621.385.833|C|10675 在架（利用可能）
49 Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205664 並木 単行書22 画像 621.385.833|S|5820 在架（利用可能）
50 Specimen preparation in materials science . Electron diffraction and optical diffraction technique 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205647 並木 単行書22 画像 621.385.833|G|6496 在架（利用可能）

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