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1	走査電子顕微鏡 日本電子顕微鏡学会関東支部 共立出版 (2000-06) UDC: 621.385 NDC8: 549.97 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602645 並木 単行書22 621.385|N| 在架（利用可能）
2	Electron microscopy 1966 vol. 1 上田, 良二 International Congress on Electron Microscopy Maruzen (1966) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602592 並木 単行書22 621.385|U| 在架（利用可能）
3	Noncontact atomic force microscopy [v. 1] 森田, 清三 Wiesendanger, R. (Roland) Meyer, E. (Ernst) Springer-Verlag (2002) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602582 並木 単行書22 621.385|M| 在架（利用可能）
4	ミクロからみた物質 上村, 洸 放送大学教育振興会 (1988-03) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602440 並木 単行書22 621.385|U| 在架（利用可能）
5	Scanning probe microscopy : analytical methods Wiesendanger, R. (Roland) Springer-Verlag (1998) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 601886 並木 単行書22 621.385|W|寄贈 在架（利用可能）
6	ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡 日本表面科学会 丸善 (2002-08) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 601030 並木 単行書22 621.385|N| 在架（利用可能）
7	ナノテクノロジーのための走査電子顕微鏡 日本表面科学会 丸善 (2004-02) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 601029 並木 単行書22 621.385|N| 在架（利用可能）
8	材料開発のための顕微鏡法と応用写真集 日本金属学会 越後谷, 淳一 弘津, 禎彦 日本金属学会 (2006-03) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600138 並木 単行書22 621.385|N 在架（利用可能）
9	新・走査電子顕微鏡 日本顕微鏡学会関東支部 共立出版 (2011-06) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600132 並木 単行書22 621.385|N 在架（利用可能）
10	電子線ナノイメージング : 高分解能TEMとSTEMによる可視化 田中, 信夫 内田老鶴圃 (2009-04) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600077 並木 単行書22 621.385|T 在架（利用可能）

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コレクション

言語

• English (20)
• 日本語 (15)

出版日

• 2000 - 2009 (1)
• 1980 - 1989 (1)
• 1970 - 1979 (1)
• 1960 - 1969 (2)

予約可能

• はい (35)

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