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In situ electron and tunneling microscopy of dynamic processes : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A.

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
602560	千現	プロシーディングス26	MRS\|S\|	在架（利用可能）

ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡

日本表面科学会丸善 UDC: 621.385

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
600922	千現	単行書11	621.385\|N\|	在架（利用可能）
601030	並木	単行書16	621.385\|N\|	在架（利用可能）

ナノテクノロジーのための走査電子顕微鏡

日本表面科学会丸善 UDC: 621.385

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
600921	千現	単行書11	621.385\|N\|	在架（利用可能）
601029	並木	単行書16	621.385\|N\|	在架（利用可能）

材料開発のための顕微鏡法と応用写真集

日本金属学会越後谷, 淳一弘津, 禎彦日本金属学会 UDC: 621.385

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
600138	千現	単行書11	621.385\|N	在架（利用可能）

新・走査電子顕微鏡

日本顕微鏡学会関東支部共立出版 UDC: 621.385

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
600132	千現	単行書11	621.385\|N	在架（利用可能）

電子線ナノイメージング : 高分解能TEMとSTEMによる可視化

田中, 信夫内田老鶴圃 UDC: 621.385

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
600077	千現	単行書11	621.385\|T	在架（利用可能）

走査プローブ顕微鏡 : 正しい実験とデータ解析のために必要なこと

重川, 秀実吉村, 雅満 Kawazu, Akira 共立出版 UDC: 621.385

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
600028	千現	単行書11	621.385\|S	在架（利用可能）

走査プローブ顕微鏡と局所分光 : 実戦ナノテクノロジー

重川, 秀実吉村, 雅満坂田, 亮重川秀実吉村雅満河津璋坂田亮裳華房 UDC: 621.385

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
600015	千現	単行書11	621.385\|S	在架（利用可能）

Vacuum microelectronics

Zhu, Wei edited by Wei Zhu Wiley-Interscience UDC: 621.385

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
219075	千現	単行書11	621.385\|Z\|11602	在架（利用可能）

高分解能電子顕微鏡 : 原理と利用法

堀内, 繁雄共立出版 UDC: 621.385

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
208264	千現	その他	621.385.\|Ｈ\|8366	行方不明 (2013年03月より)
216304	千現	単行書11	621.385.833\|H\|T-1016	在架（利用可能）
212978	千現	その他	621.385.\|Ｈ\|9349	行方不明 (2013年03月より)
527889	並木	単行書16	621.385\|K\|寄贈	在架（利用可能）
216295	千現	単行書11	621.385.833\|A\|T-1038	在架（利用可能）

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