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11	Transistor technology v. 1 Bell Telephone Laboratories, Inc. Bridgers, H. E. Scaff, J. H. Van Nostrand (1958) UDC: 621.3 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204505 並木 単行書21 621.3|B|1009 在架（利用可能）
12	Full-scale fatigue testing of aircraft structures : proceedings of the symposium held in Amsterdam, 5th-11th June 1959 Plantema, F. J. Schijve, J. Pergamon (1961) UDC: 620.17 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 203798 並木 単行書20 620.17|Ｐ| 在架（利用可能）
13	Recrystallization and related annealing phenomena Cased version Humphreys, F. J. Hatherly, M. Pergamon (1995) UDC: 621.785.3 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217575 並木 単行書23 621.785.3|H|10457 在架（利用可能）
14	Polarized light in metallography Conn, G. K. T. (George Keith Thurburn) Bradshaw, F. J. Butterworths Scientific Pub. (1952) UDC: 539 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 201750 並木 単行書10 539|C|397 在架（利用可能）
15	リラックスの科学 : 毎日のストレスを効果的に解放する McGuigan, F. J. (Frank J.) 三谷, 恵一 森, 昭胤 講談社 (1991-08) UDC: B 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217294 並木 ブルーバックス2 B|Ｈ| 在架（利用可能）
16	Electron beam x-ray microanalysis Heinrich, Kurt F. J. Van Nostrand Reinhold Co. (1981) UDC: 621.38 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204277 並木 単行書22 621.38|H|6988 在架（利用可能）

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