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1	Quantitative electron probe microanalysis : proceedings of a Seminar held at the National Bureau of Standards, Gaithersburg, Maryland, June 12-13, 1967 Heinrich, Kurt F. J. United States Department of Commerce (1968) UDC: 543.42 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602584 並木 単行書14 543.42|H| 在架（利用可能）
2	Proceedings of the Twentieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 11-13, 1971 Annual Conference on Applications on X-Ray Analysis Heinrich, Kurt F. J. Plenum (1972) UDC: 548.7 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527182 並木 単行書18 548.7||02827 在架（利用可能）
3	The electron microprobe : proceedings of the symposium sponsored by the Electrothermics and Metallurgy Division, the Electrochemical Society, Washington, D.C., October, 1964 McKinley, T. D. (Theodore David) Heinrich, Kurt F. J. Wittry, D. B. Wiley (1966) UDC: 539.12 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 525075 並木 単行書10 539.12||00079 在架（利用可能）
4	Proceedings of the Twentieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 11-13, 1971 Annual Conference on Applications on X-Ray Analysis Heinrich, Kurt F. J. Plenum (1972) UDC: 539
5	Electron beam x-ray microanalysis Heinrich, Kurt F. J. Van Nostrand Reinhold Co. (1981) UDC: 621.38 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204277 並木 単行書22 621.38|H|6988 在架（利用可能）

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