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21 Specialized methods 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527883 並木 単行書22 画像 621.385.||04795 在架（利用可能）
22 Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527900 並木 単行書22 画像 621.385.||03410 在架（利用可能）
23 New direction in transmission electron microscopy and nano-characterization of materials : proceedings of the Asian science seminar in commemoration of the the 20th anniversary of the HVEM Laboratory of Kyushu University 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527905 並木 単行書22 画像 621.385.||05396 在架（利用可能）
24 Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527868 並木 単行書22 画像 621.385.||05379 在架（利用可能）
25 The chemical applications of transmission electron microscopy 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527901 並木 単行書22 画像 621.385.||04167 在架（利用可能）
26 電子顕微鏡Q&A : 先端材料解析のための手引き 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218083 並木 単行書22 画像 621.385.833|H|10834 在架（利用可能）
27 Convergent-beam electron diffraction 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215459 並木 単行書22 画像 621.385.833|Ｔ|T-771 在架（利用可能）
28 先端材料評価のための電子顕微鏡技法 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
212569 並木 単行書22 画像 621.385.|Ｄｅ|9243 在架（利用可能）
29 電子顕微鏡学事典 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
208148 千現 書庫8 画像 621.385|Ｈ| 在架（利用可能）
貸出不可
30 Electron Microscopy 1982 Vol.2 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
207678 並木 単行書22 画像 621.385.|Ｅｌ|８３３ 在架（利用可能）

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