図書サービス
図書サービス
所内イントラネット
図書館への依頼
所内複写・貸出依頼
外部複写・貸出依頼
ログイン
ログイン
資料を検索する
検索語:
詳細検索
57 件の資料が 103794 件の資料から 0.078 秒で見つかりました。
次の項目で並べ替える:
新着図書優先
出版日優先
タイトル
41
走査電子顕微鏡 : 基礎と応用
日本電子顕微鏡学会関東支部
日本電子顕微鏡学会関東支部
共立出版
(1976-07)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
215628
並木
単行書22
621.385.833|N|T-66
在架(利用可能)
42
走査電子顕微鏡の基礎と応用
日本電子顕微鏡学会関東支部
田辺, 良美
日本電子顕微鏡学会関東支部
共立出版
(1983-12)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
216683
並木
単行書22
621.385.833|N|9652
在架(利用可能)
43
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologists
Goldstein, Joseph,
Plenum Press
(1992)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
217474
並木
単行書22
621.385.833|G|10373
在架(利用可能)
44
結晶電子顕微鏡学 : 材料研究者のための
坂, 公恭
内田老鶴圃
(1997-11)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
601853
並木
単行書22
621.385.833|S|
在架(利用可能)
45
Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden
Reimer, Ludwig
Springer-Verlag
(1959)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
201994
並木
単行書22
621.385.|R|1518
在架(利用可能)
46
High-resolution transmission electron microscopy and associated techniques : pbk
Buseck, Peter
Cowley, J. M. (John Maxwell)
Eyring, LeRoy
Oxford University Press
(1992)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
217813
並木
単行書22
621.385.833|B|10644
在架(利用可能)
47
ナノ世界への道
電顕サマースクール
日本電子顕微鏡学会電顕サマースクール実行委員会
第8回 電顕サマースクール実行委員会
学際企画
(1997-08)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
217647
並木
単行書22
621.385.833|D|10518
在架(利用可能)
48
Scanning electron microscopy/1976 Vol. 1
Johari, Om
IIT Research Institute
Becker, Robert P.
edited by Om Johari
IIT Research Institute
(1976)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205652
並木
単行書22
621.385.|J|5851
在架(利用可能)
49
Scanning electron microscopy/1977/I : Proceedings of the 10th Annual Scanning Electron Microscope Symposium and workshops on materials and component characterization/quality control with the SEM/STEM, SEM applications to semiconductors, analytical electron microscopy, biological specimen preparation for SEM, March 28 - April 1, 1977 : Sessions held at McCormick INN, Chicago, Illinois Vol. 1
Scanning Electron Microscope Symposium
Johari, Om
IIT Research Institute
edited by Om Johari
IIT Research Institute
(1977)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205654
並木
単行書22
621.385.|J|6184
在架(利用可能)
50
Scanning electron microscopy 1968 : proceedings of the Symposium on the Scanning Electron Microscope -- the instrument and its applications, held at IIT Research Institute, Chicago, Illnois, USA, April 30-May 1, 1968
Scanning Electron Microscope Symposium
IIT Research Institute
edited by Om Johari
IIT Research Institute
(1968)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205651
並木
単行書22
621.385.|J|3865
在架(利用可能)
« 最初
‹ 前へ
1
2
3
4
5
6
次へ ›
最後 »
検索語
:
詳細検索
合計: 57
検索結果のフィード
資料の形態
冊子体 (57)
図書館
並木 (53)
千現 (10)
コレクション
言語
English (41)
日本語 (15)
German (1)
出版日
2010 - 2019 (1)
1990 - 1999 (3)
1980 - 1989 (1)
予約可能
はい (52)
いいえ (5)
書き出し
RDF/XML
MODS
XLSX
TSV
JSON