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タイトル
61
半導体物性測定法
今村, 舜仁
伝田, 精一
山香, 英三
日刊工業新聞社
(1965-06)
UDC: 537.3
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
524716
並木
単行書8
537.3||00689
在架(利用可能)
62
これだけは知っておきたいセラミックスのすべて
日本セラミックス協会
日刊工業新聞社
(1996-04)
UDC: 666.3
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
528165
並木
単行書25
666.3||05294
在架(利用可能)
63
セラミックス接合工学
岩本, 信也
須賀, 唯知
日刊工業新聞社
(1990-11)
UDC: 666
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
528736
並木
単行書24
666||05002
在架(利用可能)
64
電子・イオンビームハンドブック
日本学術振興会第132委員会
日刊工業新聞社
(1986-09)
UDC: (03)537.5
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
523082
並木
参考図書3
(03)537.||05000
貸出中
( 返却期限:
2026年02月05日 )
210677
千現
書庫4
537.5|N|T-1435
在架(利用可能)
貸出不可
65
光学薄膜
Macleod, H. A. (Hugh Angus)
小倉, 繁太郎
日刊工業新聞社
(1989-11)
UDC: 539.23
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
526420
並木
単行書11
539.23||04968
在架(利用可能)
66
マイクロ加工技術
マイクロ加工技術編集委員会
日刊工業新聞社
(1988-09)
UDC: 681
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527523
並木
単行書27
681||04825
在架(利用可能)
67
電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡, X線マイクロアナライザ分析法
副島, 啓義
日刊工業新聞社
(1987-02)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527892
並木
単行書22
621.38||04772
在架(利用可能)
68
マグローヒル科学技術用語大辞典 = McGraw-Hill dictionary of scientific and technical terms
マグローヒル科学技術用語大辞典編集委員会
日刊工業新聞社
(1979-03)
UDC: (038)5/6
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
525542
並木
参考図書3
(038)5/6||03934
在架(利用可能)
69
アースと誘導 : こうすればストレーキャパシティを克服できる
伊藤, 健一
日刊工業新聞社
(1975-06)
UDC: 621.36
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527840
並木
単行書22
621.36||03896
在架(利用可能)
70
アースと熱 : こうすれば電子回路の故障は防げる
伊藤, 健一
日刊工業新聞社
(1973-12)
UDC: 621.36
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527837
並木
単行書22
621.36||03895
在架(利用可能)
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資料の形態
冊子体 (338)
図書館
並木 (338)
千現 (6)
コレクション
言語
日本語 (337)
English (1)
出版日
2000 - 2009 (3)
1990 - 1999 (6)
1980 - 1989 (1)
1970 - 1979 (2)
1960 - 1969 (4)
予約可能
はい (338)
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