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1	トランジスタの特性と性能限界 Semiconductor Electronics Education Committee 伝田, 精一 産業図書 (1969) UDC: 621.38 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527860 並木 単行書22 621.38||01881 在架（利用可能）
2	半導体物性測定法 今村, 舜仁 伝田, 精一 山香, 英三 日刊工業新聞社 (1965-06) UDC: 537.3 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 524716 並木 単行書8 537.3||00689 在架（利用可能）
3	半導体処理技術 伝田, 精一 日刊工業新聞社 (1964-07) UDC: 537.3 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 524722 並木 単行書8 537.3||00320 在架（利用可能）
4	半導体の基礎技術 「物性」編集委員会 伝田, 精一 槙書店 (1966-02) UDC: 537.3 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 524719 並木 単行書8 537.3||00304 在架（利用可能）

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