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61	Convergent Beam Electron Diffraction of Alloy Phases by The Bristol Group under the direction of John Steeds ; compiled by John Mansfield Adam Hilger Ltd. UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205653 千現 単行書11 621.385.833|Ｍ|7648 在架（利用可能）
62	Procedures in Scanning Probe Microscopies editors, Richard J. Colton, Andreas Engel, Jane E. Frommer, Hermann E. Gaub [et al.] John Wiley & Sons UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217874 千現 単行書11 621.385.833|C|10675 在架（利用可能）
63	Scanning Electron Microscopy/ 1977/ 1 : Proceedings of the 10th Annual Scanning Electron Microscope Symposium and Workshop on Materials and Component Characterization / Quality Control with the SEM/STEM SEM Applications to Semiconductors Analytical Electron Microscopy Biological Specimen Preparation for Sem March 28-April 1, 1977 edited by Om Johari edited by Om Johari IIT Research Institute UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205654 千現 単行書11 621.385.|J|6184 在架（利用可能）
64	Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials Brent Fultz, James M. Howe Springer UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 218843 千現 単行書11 621.385.833|F|11478 在架（利用可能）
65	Practical Analytical Electron Microscopy in Materials Science by Daid B. Williams Philips Electronic Instruments UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 209053 千現 単行書11 621.385.833|W|7785 在架（利用可能）
66	Scanning Electron Microscopy : Aplications to Materials and Device Science P.R. Thornton Chapman and Hall (1968) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 210682 千現 単行書11 621.385.|T|3539 在架（利用可能）
67	Scanning Electron Microscopy/ 1968 : Proceedings of the Symposium on The Scanning Electron Microscope -- The Instrument and Its Applications April 30-May1, 1968 Chicago, Illinois edited by Om Johari edited by Om Johari IIT Research Institute (1968) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205651 千現 単行書11 621.385.|J|3865 在架（利用可能）
68	Electron Microscopy 1966 Vol,1 R.Uyeda Maruzen Co Ltd (1966) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205646 千現 単行書11 621.385.|Ｅｌ|８３３ 在架（利用可能）
69	Techniques for Electron Microscopy -2nd ed.- edited by Desmond H. Kay ; foreword by V.E. Cosslett edited by Desmond H. Kay ; foreword by V.E. Cosslett Blackwell Scientific Publications (1965) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 216706 千現 単行書11 621.385.833|Ｋ|2983 在架（利用可能）
70	Electron Microscopy and Strength of Crystals : Proceedings of the first Berkeley International Materials Conference, the Impact of transmission electron microscopy on theories of the strength of crystals held at the University of California, Berkeley, July 5-8, 1961 edited by Gareth Thomas, Jack Washburn edited by Gareth Thomas, Jack Washburn Interscience Publishers (1963) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205658 千現 単行書11 621.385.|Ｔ|2236 在架（利用可能）

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• 冊子体 (73)

図書館

• 千現 (64)
• 並木 (14)

コレクション

言語

• English (56)
• 日本語 (17)

出版日

• 2010 - 2019 (1)
• 2000 - 2009 (3)
• 1990 - 1999 (28)
• 1980 - 1989 (16)
• 1970 - 1979 (11)
• 1960 - 1969 (5)
• 1950 - 1959 (2)
• 1940 - 1949 (1)

予約可能

• はい (71)
• いいえ (2)

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