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[M] Scanning Electron Microscopy/ 1977/ 1 : Proceedings of the 10th Annual Scanning Electron Microscope Symposium and Workshop on Materials and Component Characterization / Quality Control with the SEM/STEM SEM Applications to Semiconductors Analytical Electron Microscopy Biological Specimen Preparation for Sem March 28-April 1, 1977 冊子体

著者: 協力者・編者: edited by Om Johari 出版者: IIT Research Institute

形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 784p; 28cm
件名:
分類:
識別子: ISBN: 9780915802111
アブストラクト:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205654 千現 単行書11 画像 621.385.|J|6184 在架(利用可能)