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Fundamentals of solid state electronics

Sah, Chih-Tang World Scientific (1991) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
602833	並木	単行書16	621.382\|S\|	在架（利用可能）

半導体デバイス工程評価技術ライフタイム、DLTS評価を中心として

宇佐美晶徳田豊リアライズ社 (1990) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
529622	並木	単行書16	621.382\|U\|05575	在架（利用可能）

シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法 Basic Properties of Defects in Silicon and Their Characterizing Techniques

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
529620	並木	単行書16	621.382\|U\|05573	在架（利用可能）

半導体デバイス界面の汚染・損傷の評価と対策

黒田司岩黒弘明リアライズ社 (1992) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
529619	並木	単行書16	621.382\|k\|05572	在架（利用可能）

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