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1	半導体デバイス工程評価技術 ライフタイム、DLTS評価を中心として 徳田 豊, 宇佐美 晶 リアライズ社 (1990) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 529622 並木 単行書16 621.382|U|05575 在架（利用可能）
2	シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法 Basic Properties of Defects in Silicon and Their Characterizing Techniques 上浦 洋一 リアライズ社 (1997) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 529620 並木 単行書16 621.382|U|05573 在架（利用可能）
3	半導体デバイス界面の汚染・損傷の評価と対策 黒田 司, 岩黒 弘明 リアライズ社 (1992) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 529619 並木 単行書16 621.382|k|05572 在架（利用可能）
4	次世代ＵＬＳＩ多層配線の新素材・プロセス技術 吉川公麿 [監修] 技術情報協会 (2000) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 218846 千現 単行書11 621.382|Y|11481 在架（利用可能）
5	クライオエレクトロニクス入門 中村 彬 オーム社 (1980) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527874 並木 単行書16 621.382|N|04295 在架（利用可能）
6	Integrated Circuit Technology. Seymour Schwartz.' McGraw-Hill Book Com. (1967) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527870 並木 単行書16 621.382||01043 在架（利用可能）
7	Fundamentals of Transmission Electron Microscopy 13 Vol.13 Robert D. Heidenreich Interscience Publishers (1964) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204472 千現 単行書11 621.382|H|2668 在架（利用可能）
8	Fundamentals of Transmission Electron Microscopy 13 Vol.13 Robert D. Heidenreich Interscience Publishers (1964) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204471 千現 単行書11 621.382|H|2645 在架（利用可能）
9	Vacuum and Solid State Electronics: an Introductory Course Vol.2 D.J. Harris and P.N. Robson Pergamon Press (1963) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204469 千現 単行書11 621.382|H|964 在架（利用可能）
10	Proceedings of the International Conference on Semiconductor Physics Prague 1960 International Conference on Semiconductor Physics Academic Press (1961) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204466 千現 単行書11 621.382|I|2482 在架（利用可能）

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合計: 16

資料の形態

• 冊子体 (16)

図書館

• 千現 (11)
• 並木 (5)

コレクション

言語

• 日本語 (10)
• English (6)

出版日

• 2000 - 2009 (1)
• 1990 - 1999 (3)
• 1980 - 1989 (4)
• 1960 - 1969 (6)

予約可能

• はい (16)

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