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1	Fundamentals of solid state electronics Sah, Chih-Tang World Scientific (1991) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602833 並木 単行書22 621.382|S| 在架（利用可能）
2	半導体 : 先端技術を支える 杉上, 孝二 通商産業調査会 (1984-09) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602567 並木 単行書22 621.382|S| 在架（利用可能）
3	半導体デバイス工程評価技術 : ライフタイム、DLTS評価を中心として 宇佐美, 晶 徳田, 豊 リアライズ社 (1990-09) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 529622 並木 単行書22 621.382|U|05575 在架（利用可能）
4	シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法 上浦, 洋一 リアライズ社 (1997-05) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 529620 並木 単行書22 621.382|U|05573 在架（利用可能）
5	半導体デバイス界面の汚染・損傷の評価と対策 黒田, 司 岩黒, 弘明 リアライズ社 (1992-02) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 529619 並木 単行書22 621.382|k|05572 在架（利用可能）
6	次世代ＵＬＳＩ多層配線の新素材・プロセス技術 吉川公麿 [監修] 技術情報協会 (2000-01-01) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 218846 並木 単行書22 621.382|Y|11481 在架（利用可能）
7	クライオエレクトロニクス入門 中村, 彬 オーム社 (1980-06) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527874 並木 単行書22 621.382|N|04295 在架（利用可能）
8	Integrated circuit technology : instrumentation and techniques for measurement, process, and failure analysis Schwartz, Seymour McGraw-Hill (1967) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527870 並木 単行書22 621.382||01043 在架（利用可能）
9	Fundamentals of transmission electron microscopy Heidenreich, Robert D. Interscience Publishers (1964) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 529965 並木 単行書18 548.74|H|寄贈 在架（利用可能） 527902 並木 単行書22 621.385||01122 在架（利用可能）
10	Vacuum and solid state electronics : an introductory course Harris, D. J. (...Denis John...) Robson, P. N. Pergamon Macmillan (1963) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204469 並木 単行書22 621.382|H|964 在架（利用可能）

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資料の形態

• 冊子体 (15)

図書館

• 並木 (15)
• 千現 (1)

コレクション

言語

• 日本語 (10)
• English (5)

出版日

• 2000 - 2009 (1)
• 1990 - 1999 (1)

予約可能

• はい (15)

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