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タイトル
1
Fundamentals of solid state electronics
Sah, Chih-Tang
World Scientific
(1991)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
602833
並木
単行書16
621.382|S|
在架(利用可能)
2
半導体 : 先端技術を支える
杉上, 孝二
通商産業調査会
(1984)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
602567
並木
単行書16
621.382|S|
在架(利用可能)
3
半導体デバイス工程評価技術 ライフタイム、DLTS評価を中心として
宇佐美 晶
徳田 豊
リアライズ社
(1990)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
529622
並木
単行書16
621.382|U|05575
在架(利用可能)
4
シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法 Basic Properties of Defects in Silicon and Their Characterizing Techniques
上浦 洋一
リアライズ社
(1997)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
529620
並木
単行書16
621.382|U|05573
在架(利用可能)
5
半導体デバイス界面の汚染・損傷の評価と対策
黒田 司
岩黒 弘明
リアライズ社
(1992)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
529619
並木
単行書16
621.382|k|05572
在架(利用可能)
6
次世代ULSI多層配線の新素材・プロセス技術
吉川公麿 [監修]
技術情報協会
(2000)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
218846
千現
単行書11
621.382|Y|11481
在架(利用可能)
7
クライオエレクトロニクス入門
中村 彬
オーム社
(1980)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527874
並木
単行書16
621.382|N|04295
在架(利用可能)
8
Integrated Circuit Technology.
Seymour Schwartz.'
McGraw-Hill Book Com.
(1967)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527870
並木
単行書16
621.382||01043
在架(利用可能)
9
Fundamentals of Transmission Electron Microscopy
Heidenreich, Robert D.
Interscience Publishers
(1964)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
204472
千現
単行書11
621.382|H|2668
在架(利用可能)
527902
並木
単行書16
621.385||01122
在架(利用可能)
529965
並木
単行書15
548.74|H|寄贈
行方不明 (2022年12月 より)
204471
千現
単行書11
621.382|H|2645
在架(利用可能)
10
Fundamentals of Transmission Electron Microscopy 13 Vol.13
(1964)
UDC: 621.382
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合計: 18
検索結果のフィード
資料の形態
冊子体 (18)
図書館
千現 (10)
並木 (8)
コレクション
言語
日本語 (11)
English (7)
出版日
2000 - 2009 (1)
1990 - 1999 (4)
1980 - 1989 (5)
1960 - 1969 (6)
予約可能
はい (17)
いいえ (1)
書き出し
RDF/XML
MODS
XLSX
TSV
JSON