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1 Fundamentals of solid state electronics 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602833 並木 単行書16 画像 621.382|S| 貸出中
( 返却期限:
2024年06月13日 )
2 半導体 : 先端技術を支える 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602567 並木 単行書16 画像 621.382|S| 在架(利用可能)
3 半導体デバイス工程評価技術 ライフタイム、DLTS評価を中心として 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
529622 並木 単行書16 画像 621.382|U|05575 在架(利用可能)
4 シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法 Basic Properties of Defects in Silicon and Their Characterizing Techniques 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
529620 並木 単行書16 画像 621.382|U|05573 在架(利用可能)
5 半導体デバイス界面の汚染・損傷の評価と対策 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
529619 並木 単行書16 画像 621.382|k|05572 在架(利用可能)
6 次世代ULSI多層配線の新素材・プロセス技術 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218846 千現 単行書11 画像 621.382|Y|11481 在架(利用可能)
7 クライオエレクトロニクス入門 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527874 並木 単行書16 画像 621.382|N|04295 在架(利用可能)
8 Integrated Circuit Technology. 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527870 並木 単行書16 画像 621.382||01043 在架(利用可能)
9 Fundamentals of Transmission Electron Microscopy 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
204472 千現 単行書11 画像 621.382|H|2668 在架(利用可能)
527902 並木 単行書16 画像 621.385||01122 在架(利用可能)
529965 並木 単行書15 画像 548.74|H|寄贈 行方不明 (2022年12月 より)
204471 千現 単行書11 画像 621.382|H|2645 在架(利用可能)
10 Fundamentals of Transmission Electron Microscopy 13 Vol.13 冊子体
(1964) UDC: 621.382

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