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1 半導体デバイス工程評価技術 ライフタイム、DLTS評価を中心として 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
529622 並木 単行書15 画像 621.382|U|05575 在架(利用可能)
2 シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法 Basic Properties of Defects in Silicon and Their Characterizing Techniques 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
529620 並木 単行書15 画像 621.382|U|05573 在架(利用可能)
3 半導体デバイス界面の汚染・損傷の評価と対策 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
529619 並木 単行書15 画像 621.382|k|05572 在架(利用可能)
4 次世代ULSI多層配線の新素材・プロセス技術 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218846 千現 単行書11 画像 621.382|Y|11481 在架(利用可能)
5 クライオエレクトロニクス入門 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527874 並木 単行書15 画像 621.382|N|04295 在架(利用可能)
6 Integrated Circuit Technology. 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527870 並木 単行書15 画像 621.382||01043 在架(利用可能)
7 Fundamentals of Transmission Electron Microscopy 13 Vol.13 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
204472 千現 単行書11 画像 621.382|H|2668 在架(利用可能)
8 Fundamentals of Transmission Electron Microscopy 13 Vol.13 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
204471 千現 単行書11 画像 621.382|H|2645 在架(利用可能)
9 Vacuum and Solid State Electronics: an Introductory Course Vol.2 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
204469 千現 単行書11 画像 621.382|H|964 在架(利用可能)
10 Proceedings of the International Conference on Semiconductor Physics Prague 1960 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
204466 千現 単行書11 画像 621.382|I|2482 在架(利用可能)

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