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Fundamentals of solid state electronics

Sah, Chih-Tang World Scientific (1991) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
602833	並木	単行書16	621.382\|S\|	在架（利用可能）

半導体 : 先端技術を支える

杉上, 孝二通商産業調査会 UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
602567	並木	単行書16	621.382\|S\|	在架（利用可能）

半導体デバイス工程評価技術 : ライフタイム、DLTS評価を中心として

宇佐美, 晶徳田, 豊リアライズ社 UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
529622	並木	単行書16	621.382\|U\|05575	在架（利用可能）

シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法

上浦, 洋一リアライズ社 UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
529620	並木	単行書16	621.382\|U\|05573	在架（利用可能）

半導体デバイス界面の汚染・損傷の評価と対策

黒田, 司岩黒, 弘明リアライズ社 UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
529619	並木	単行書16	621.382\|k\|05572	在架（利用可能）

次世代ＵＬＳＩ多層配線の新素材・プロセス技術

吉川公麿 [監修] 技術情報協会 UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
218846	千現	単行書11	621.382\|Y\|11481	在架（利用可能）

クライオエレクトロニクス入門

中村, 彬オーム社 UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
527874	並木	単行書16	621.382\|N\|04295	在架（利用可能）

Integrated circuit technology : instrumentation and techniques for measurement, process, and failure analysis

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
527870	並木	単行書16	621.382\|\|01043	在架（利用可能）

Fundamentals of transmission electron microscopy

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
204472	千現	単行書11	621.382\|H\|2668	在架（利用可能）
527902	並木	単行書16	621.385\|\|01122	在架（利用可能）
529965	並木	単行書15	547.74\|H\|寄贈	行方不明 (2022年12月より)
204471	千現	単行書11	621.382\|H\|2645	在架（利用可能）

Fundamentals of Transmission Electron Microscopy 13 Vol.13

(1964) UDC: 621.382

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