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1	Electron probe microanalysis Birks, L. S. Interscience Publishers UDC: 543 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 526916 並木 単行書10 543||01701 在架（利用可能）
2	Proceedings of the Twenty-first Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 2-4, 1972 Annual Conference on Applications on X-Ray Analysis Birks, L. S. Plenum 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 209702 千現 単行書4 539|Ａ|5098 在架（利用可能）
3	Electron probe microanalysis Birks, L. S. Interscience Publishers UDC: 543 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 202056 千現 単行書6 543|C|2413 在架（利用可能）
4	螢光X線分析入門 Birks, L. S. 沢田, 昌雄 塘, 賢二郎 理学電機図書 UDC: 543.4 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 209226 千現 単行書7 543.4|Ｂ|794 在架（利用可能）

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図書館

• 千現 (3)
• 並木 (1)

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