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1	Interpretation of transmission electron micrographs Edington, Jeffrey William MacMillan 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600503 千現 単行書11 621.385.833|M|3 在架（利用可能）
2	Typical electron microscope investigations Edington, Jeffrey William MacMillan 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600502 千現 単行書11 621.385.833|M|4 在架（利用可能）
3	Electron microscope specimen preparation techniques in materials science Thompson-Russell, K. C. Edington, Jeffrey William MacMillan UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600501 千現 単行書11 621.385.833|M|5 在架（利用可能）
4	Electron diffraction in the electron microscope Edington, Jeffrey William MacMillan UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600500 千現 単行書11 621.385.833|M|2 在架（利用可能）
5	The operation and calibration of the electron microscope Edington, Jeffrey William MacMillan UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600499 千現 単行書11 621.385.833|M|1 在架（利用可能）

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