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Fatigue Crack Growth Under Spectrum Loads : A Symposium Presented at the Seventy-eighth Annual Meeting American Society for Testing and Materials Montreal, Canada, 23-24 June 1975 : ASTM STP No.595 STP 595 No.595 R. P. Wei, R. I. Stephens American Society for Testing and Materials (ASTM) (1976) UDC: STP 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 212652 千現 プロシーディングス27 STP|A|ｷ397 在架（利用可能）

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資料の形態

• 冊子体 (1)

図書館

• 千現 (1)

コレクション

言語

• English (1)

出版日

• 1970 - 1979 (1)

予約可能

• はい (1)

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