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1 Diffusion and Defect Data Pt A : Defect and Diffusion Forum 定期刊行物 冊子体
ISSN: 16629507
所蔵情報: 【千現】<年次:1988-2009>Vol.57-212,249-286
2 Local Lattice Rotations and Dislinations in Microstructures of Distorted Crystalline Materials Vol. 87 Vol.87 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219337 千現 単行書9 画像 548.526|D|11790 在架(利用可能)
3 Defect Interaction and Clustering in Semiconductors Vols.85-86 Vols.85-86 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219336 千現 単行書9 画像 548.526|D|11789 在架(利用可能)
4 Polycrystalline Semiconductors Ⅳ, Materials, Technologies, and Large Area Electronics : Proceedings of the 6th International Conference, Saint Malo, September 3-7, 2000 Vols. 80-81 Vols.80-81 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218998 千現 単行書9 画像 548.526|D|11538 在架(利用可能)
5 Diffusion in Materials : DIMAT2000 : Proceeding of the Fifth International Conference on Diffusion in Materials Paris France July 17-21, 2000 Vols.194-199 Part.2 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218907 千現 単行書8 画像 548.526|D|11495 在架(利用可能)
6 Diffusion in Materials DIMAT-96 Pt.1 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
525659 並木 単行書3 画像 53|| 在架(利用可能)
7 Diffusion in Materials DIMAT-96 Pt.Ⅱ 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
525660 並木 単行書3 画像 53|| 在架(利用可能)
8 Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors BIAMS 2000: Proceedings of the 6th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors held in Fukuoka, Japan, November 12-16, 2000 Vols. 78-79 Vols.78-79 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218799 千現 単行書9 画像 548.526|D|11471 在架(利用可能)
9 Ultra Clean Processing of Silicon Surfaces : Proceedings of the Fifth International Symposium on Ultra Clean Processing of Silicon Surfaces (UCPSS 2000), held in Ostend, Belgium, September 18-20, 2000 Vols. 76-77 Vols.76-77 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218743 千現 単行書9 画像 548.526|D|11420 在架(利用可能)
10 Hydrogen Metal Systems 2 Vols.73-75 Vols.73-75 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218619 千現 単行書9 画像 548.526|D|11302 在架(利用可能)

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