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タイトル
1
Diffusion and Defect Data Pt A : Defect and Diffusion Forum
ISSN: 16629507
所蔵情報: 【千現】<年次:1988-2009>Vol.57-212,249-286
http://www.scientific.net/DDF
2
Local Lattice Rotations and Dislinations in Microstructures of Distorted Crystalline Materials Vol. 87 Vol.87
Editor: P. Klimanek, A.E. Romanov, M. Seefeldt
Scitec Publications Ltd
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
219337
千現
単行書9
548.526|D|11790
在架(利用可能)
3
Defect Interaction and Clustering in Semiconductors Vols.85-86 Vols.85-86
Editor: S. Pizzini
Scitec Publications Ltd
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
219336
千現
単行書9
548.526|D|11789
在架(利用可能)
4
Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors BIAMS 2000: Proceedings of the 6th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors held in Fukuoka, Japan, November 12-16, 2000 Vols. 78-79 Vols.78-79
Editors: Hajime Tomokage, Takashi Sekiguchi
Scitec Publications Ltd
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
218799
千現
単行書9
548.526|D|11471
在架(利用可能)
5
Special Defects in Semiconducting Materials Vol.71 Vol.71
Editor: R. P. Agarwala
Scitec Publications Ltd
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
218373
千現
単行書9
548.526|D|11107
在架(利用可能)
6
Ultra clean processing of silicon surfaces : proceedings of the Fourth International Symposium on ultra clean processing of silicon surfaces held in Ostend, Belgium, September 21-23, 1998
Heyns, Marc
Meuris, Marc
Mertens, Paul
Scitec Publications Ltd
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
218003
千現
単行書9
548.526|D|10794
在架(利用可能)
7
Diffusion and Defect Data Pt.A Vol.113-114
Scitec Publications Ltd
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
213215
千現
単行書8
548.526|D|
在架(利用可能)
8
Diffusion and Defect Data Pt.A Vol.111-112
Scitec Publications Ltd
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
213214
千現
単行書8
548.526|D|
在架(利用可能)
9
Beam injection assessment of defects in semiconductors : proceedings of the 5th workshop on beam injection assessment of defects in semiconductors held in Parkhotel Schloss Wulkow near Berlin, Germany, August 30-September 3, 1998
Kittler, M.
Breitenstein, O.
Scitec Publications Ltd.
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
217984
千現
単行書9
548.526|D|10776
在架(利用可能)
10
Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology GADEST 2001 : Proceedings of the 9th International Autumn Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology, S. Tecla, Italy September 30-October 3, 2001 Vols. 82-84 Vols.82-84
Editor: V. Raineri, F. Priolo, M. Kittler and H. Richter
Scitec Publications Ltd
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
219032
千現
単行書9
548.526|D|11571
在架(利用可能)
検索語
:
詳細検索
合計: 10
検索結果のフィード
資料の形態
冊子体 (10)
図書館
千現 (10)
コレクション
言語
English (9)
不明 (1)
出版日
2000 - 2009 (5)
1990 - 1999 (2)
予約可能
はい (9)
いいえ (1)
書き出し
RDF/XML
MODS
XLSX
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