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1	Diffusion and Defect Data Pt A : Defect and Diffusion Forum ISSN: 16629507 所蔵情報: 【千現】＜年次:1988-2009＞Vol.57-212,249-286 http://www.scientific.net/DDF
2	Local Lattice Rotations and Dislinations in Microstructures of Distorted Crystalline Materials Vol. 87 Vol.87 Editor: P. Klimanek, A.E. Romanov, M. Seefeldt Scitec Publications Ltd UDC: 548.526 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219337 千現 単行書9 548.526|D|11790 在架（利用可能）
3	Defect Interaction and Clustering in Semiconductors Vols.85-86 Vols.85-86 Editor: S. Pizzini Scitec Publications Ltd UDC: 548.526 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219336 千現 単行書9 548.526|D|11789 在架（利用可能）
4	Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors BIAMS 2000: Proceedings of the 6th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors held in Fukuoka, Japan, November 12-16, 2000 Vols. 78-79 Vols.78-79 Editors: Hajime Tomokage, Takashi Sekiguchi Scitec Publications Ltd UDC: 548.526 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 218799 千現 単行書9 548.526|D|11471 在架（利用可能）
5	Special Defects in Semiconducting Materials Vol.71 Vol.71 Editor: R. P. Agarwala Scitec Publications Ltd UDC: 548.526 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 218373 千現 単行書9 548.526|D|11107 在架（利用可能）
6	Ultra clean processing of silicon surfaces : proceedings of the Fourth International Symposium on ultra clean processing of silicon surfaces held in Ostend, Belgium, September 21-23, 1998 Heyns, Marc Meuris, Marc Mertens, Paul Scitec Publications Ltd UDC: 548.526 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 218003 千現 単行書9 548.526|D|10794 在架（利用可能）
7	Diffusion and Defect Data Pt．A Vol．113-114 Scitec Publications Ltd UDC: 548.526 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 213215 千現 単行書8 548.526|Ｄ| 在架（利用可能）
8	Diffusion and Defect Data Pt．A Vol．111-112 Scitec Publications Ltd UDC: 548.526 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 213214 千現 単行書8 548.526|Ｄ| 在架（利用可能）
9	Beam injection assessment of defects in semiconductors : proceedings of the 5th workshop on beam injection assessment of defects in semiconductors held in Parkhotel Schloss Wulkow near Berlin, Germany, August 30-September 3, 1998 Kittler, M. Breitenstein, O. Scitec Publications Ltd. UDC: 548.526 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217984 千現 単行書9 548.526|Ｄ|10776 在架（利用可能）
10	Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology GADEST 2001 : Proceedings of the 9th International Autumn Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology, S. Tecla, Italy September 30-October 3, 2001 Vols. 82-84 Vols.82-84 Editor: V. Raineri, F. Priolo, M. Kittler and H. Richter Scitec Publications Ltd UDC: 548.526 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219032 千現 単行書9 548.526|D|11571 在架（利用可能）

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資料の形態

• 冊子体 (10)

図書館

• 千現 (10)

コレクション

言語

• English (9)
• 不明 (1)

出版日

• 2000 - 2009 (5)
• 1990 - 1999 (2)

予約可能

• はい (9)
• いいえ (1)

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