資料を検索する

検索語: 詳細検索

2 件の資料が 103568 件の資料から 0.051 秒で見つかりました。

次の項目で並べ替える: 新着図書優先 出版日優先 タイトル

1

Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors: Biams 2000 Hajime,Tomokage Takashi,Sekiguchi. (2000) UDC: 621.38 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602155 並木 単行書16 621.38|S| 在架（利用可能）

2

Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors BIAMS 2000: Proceedings of the 6th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors held in Fukuoka, Japan, November 12-16, 2000 Vols. 78-79 Vols.78-79 Editors: Hajime Tomokage, Takashi Sekiguchi Scitec Publications Ltd (2001) UDC: 548.526 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 218799 千現 単行書9 548.526|D|11471 在架（利用可能）

合計: 2

検索結果のフィード

資料の形態

• 冊子体 (2)

図書館

• 並木 (1)
• 千現 (1)

コレクション

言語

• English (2)

出版日

• 2000 - 2009 (2)

予約可能

• はい (2)

書き出し

• RDF/XML
• MODS
• XLSX
• TSV
• JSON