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1 走査電子顕微鏡 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602645 並木 単行書16 画像 621.385|N| 在架(利用可能)
2 Electron microscopy 1966 vol. 1 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602592 並木 単行書16 画像 621.385|U| 在架(利用可能)
3 Noncontact atomic force microscopy [v. 1] 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602582 並木 単行書16 画像 621.385|M| 在架(利用可能)
4 In situ electron and tunneling microscopy of dynamic processes : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A. 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602560 千現 プロシーディングス26 画像 MRS|S| 在架(利用可能)
5 ミクロからみた物質 2 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602440 並木 単行書16 画像 621.385|U| 在架(利用可能)
6 Scanning probe microscopy : analytical methods 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
601886 並木 単行書16 画像 621.385|W|寄贈 在架(利用可能)
7 ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600922 千現 単行書11 画像 621.385|N| 在架(利用可能)
601030 並木 単行書16 画像 621.385|N| 在架(利用可能)
8 ナノテクノロジーのための走査電子顕微鏡 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600921 千現 単行書11 画像 621.385|N| 在架(利用可能)
601029 並木 単行書16 画像 621.385|N| 在架(利用可能)
9 材料開発のための顕微鏡法と応用写真集 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600138 千現 単行書11 画像 621.385|N 在架(利用可能)
10 新・走査電子顕微鏡 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600132 千現 単行書11 画像 621.385|N 在架(利用可能)

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