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タイトル
1
走査電子顕微鏡
日本電子顕微鏡学会関東支部
共立出版
(2000-06)
UDC: 621.385
NDC8: 549.97
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
602645
並木
単行書16
621.385|N|
在架(利用可能)
2
Electron microscopy 1966 vol. 1
International Congress on Electron Microscopy
上田, 良二
Maruzen
(1966)
UDC: 621.385
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
602592
並木
単行書16
621.385|U|
在架(利用可能)
3
Noncontact atomic force microscopy [v. 1]
森田, 清三
Wiesendanger, R. (Roland)
Meyer, E. (Ernst)
Springer-Verlag
(2022)
UDC: 621.385
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
602582
並木
単行書16
621.385|M|
在架(利用可能)
4
In situ electron and tunneling microscopy of dynamic processes : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A.
Sharma, Renu
Materials Research Society Symposium on "In Situ Electron and Tunneling Microscopy of Dynamic Processes"
Materials Research Society
(1996)
UDC: 621.385
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
602560
千現
プロシーディングス26
MRS|S|
在架(利用可能)
5
ミクロからみた物質 2
上村, 洸
放送大学教育振興会
(1988)
UDC: 621.385
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
602440
並木
単行書16
621.385|U|
在架(利用可能)
6
Scanning probe microscopy : analytical methods
Wiesendanger, R. (Roland)
Springer-Verlag
(1998)
UDC: 621.385
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
601886
並木
単行書16
621.385|W|寄贈
在架(利用可能)
7
ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡
日本表面科学会
丸善
(2002-08)
UDC: 621.385
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
600922
千現
単行書11
621.385|N|
在架(利用可能)
601030
並木
単行書16
621.385|N|
在架(利用可能)
8
ナノテクノロジーのための走査電子顕微鏡
日本表面科学会
丸善
(2004-02)
UDC: 621.385
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
600921
千現
単行書11
621.385|N|
在架(利用可能)
601029
並木
単行書16
621.385|N|
在架(利用可能)
9
材料開発のための顕微鏡法と応用写真集
日本金属学会
越後谷, 淳一
弘津, 禎彦
日本金属学会
(2006-03)
UDC: 621.385
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
600138
千現
単行書11
621.385|N
在架(利用可能)
10
新・走査電子顕微鏡
日本顕微鏡学会関東支部
共立出版
(2011-06)
UDC: 621.385
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
600132
千現
単行書11
621.385|N
在架(利用可能)
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資料の形態
冊子体 (37)
図書館
千現 (22)
並木 (18)
コレクション
言語
English (22)
日本語 (15)
出版日
2000 - 2009 (1)
1980 - 1989 (1)
1970 - 1979 (1)
1960 - 1969 (2)
予約可能
はい (37)
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