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1 Advanced Light Microscopy. Vol.1 (Vol.1:- Principles and Basic Properties.) 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527882 並木 単行書15 画像 621.385.||04794 在架(利用可能)
2 Advanced Light Microscopy. Vol.2 (Vol.2:- Specialized Methods.) 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527883 並木 単行書15 画像 621.385.||04795 在架(利用可能)
3 Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
217779 千現 単行書11 画像 621.385.833|N|10615 在架(利用可能)
4 Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527868 並木 単行書15 画像 621.385.||05379 在架(利用可能)
5 Characterization of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy Science 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219114 千現 単行書11 画像 621.385.|J|11641 在架(利用可能)
6 Convergent Beam Electron Diffraction of Alloy Phases 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205661 千現 単行書11 画像 621.385.833|M|7930 在架(利用可能)
7 Convergent Beam Electron Diffraction of Alloy Phases 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205653 千現 単行書11 画像 621.385.833|M|7648 在架(利用可能)
8 Convergent-Beam Electron Diffraction 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215459 千現 単行書11 画像 621.385.833|T|T-771 在架(利用可能)
9 Convergent-Beam Electron Diffraction 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205660 千現 単行書11 画像 621.385.833|T|キ 210 在架(利用可能)
10 Developments in Electron Microscopy and Analysis. 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205663 千現 単行書11 画像 621.385.833|V|5861 在架(利用可能)

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