[M] X-ray microscopy and X-ray microanalysis : proceedings of the Second International Symposium (Stockholm, 1960)

edited by A. Engström, V. Cosslett, H. Pattee
著者: International Symposium on X-ray Optics and X-ray Microanalysis Engström, Arne Cosslett, V. Pattee, H. 協力者・編者: edited by A. Engstrom, V. Cosslett, H. Pattee 出版者: Elsevier (出版日: 1960)

資料: X-ray microscopy and X-ray microanalysis : proceedings of the Second International Symposium (Stockholm, 1960)

本棚: 単行書11 (並木)

貸出区分: 標準

貸出状態: 在架（利用可能）

請求記号: 539.26|E|1765

原簿番号:

所蔵情報ID: 202092

付録を含む: いいえ

閲覧に必要な権限: Guest

受入日: 1961年09月12日

業務用メモ:

受入時刻:

作成時刻: 2010/12/15 22:54:34

更新時刻: 2025/12/15 09:33:15